АЦКП / Рентгеноструктурный и фазовый анализ

Институт проблем химической физики РАН

1. Монокристальный рентгеновский дифрактометр P4 BRUKER


Монокристальный рентгеновский дифрактометр P4

 

Монокристальный рентгеновский экваториальный четырехкружный дифрактометр P4 фирмы BRUKER предназначен для проведения рентгеновских экспериментов на монокристаллах. Дифрактометр обладает эйлеровской геометрией. Р4 является стандартным дифрактометром. В качестве источника излучения используется Mo рентгеновская керамическая трубка мощностью 2000Вт, для монохроматизации рентгеновского излучения используется графитовый монохроматор. Регистрация отраженного излучения осуществляется стандартным сцинтилляционным точечным детектором.
Прибор снабжен стандартным программным обеспечением позволяющим определять и уточнять элементарную ячейку, симметрию, проводить эксперименты по набору массива рентгеновских отражений с последующей его обработкой. Полученные экспериментальные данные используются для расшифровки и уточнения кристаллической структуры. Прибор снабжен низкотемпературной азотной приставкой, работающей в области температур от -30° до -173°С .


2. Рентгеновский порошковый дифрактометр ARL X'TRA
Рентгеновский порошковый дифрактометр ARLX'TRA
Вертикальная дифракционная система тета:тета ARLX'TRA предназначена для проведения порошковых исследований. При использовании тета:тета гониометра проба остается неподвижной в горизонтальном положении, в то время как перемещаются рентгеновская трубка и детектор. Такая геометрия особенно рекомендуется для трудно устанавливаемых проб (порошки, жидкости, и т.д.).
Система ARLX'TRA работает в диапазоне углов 2˜ от -8° до 160°, снабжена системой цифрового серво-привода высокого разрешения с оптическим декодором (точность декодера +/- 0.00025 градуса). Прибор снабжен коллиматорными щелями Соллера 1.15° и гибкой системой щелей для отраженного излучения, постоянно подстраиваемой микрометром в диапазоне 0-10 мм. В качестве источника рентгеновского излучения используется Cu рентгеновская трубка с максимальной мощностью 2000 Вт.
Для регистрации рентгеновского излучения используется Si полупроводниковый детектор. Область линейной скорости счета детектора составляет до 50000 имп./сек, внутренний фон ниже 0.1 имп./сек, кпд составляет практически 100% для рентгеновского Cu K±.
Дифрактометр снабжен программным обеспечением, позволяющим обрабатывать рентгеновские порошковые спектры, уточнять параметры элементарной ячейки, определять степень кристалличности, делать оценки размеров кристаллитов.


3. Рентгеновский порошковый дифрактометр ДРОН-УМ2

Рентгеновский порошковый дифрактометр ДРОН УМ-2
Дифрактометр ДРОН УМ-2 укомплектован гониометром БГ-0 (Carl Zeiss, Германия), что позволяет получать дифрактограммы порошковых материалов с высоким угловым разрешением (0.003 градуса). Для управления дифрактометром, накопления данных и фазового анализа порошков используются персональные компьютеры и несколько баз данных, включающих в себя полную базу JCPDS до 1999 года включительно. Имеющееся программное обеспечение позволяет выводить данные в стандарте, принятом для ICDD, а также уточнять параметры элементарной ячейки, рассчитывать теоретические дифрактограммы, определять величину области когерентного рассеяния. Для рентгенофазового анализа, как правило, достаточно 10 мг вещества.